1990

Leininger, M.: "Wege zur Berechnung der Übertragungseigenschaften inhomogener Mehrfachleitungen", Dissertation

Anthofer, A.: "MOS-Transistormodell mit verbesserten Analogeigenschaften", Dissertation

Hoffmann, K.: VLSI-Entwurf , Modelle und Schaltungen. München: Oldenbourg Verlag, 1990

Oberle, H.D., Hoffmann, K., Kowarik, O., Leitmeir M.: "Testen von dynamischen Halbleiterspeichern", Mikroelektronik Jan./Febr. 1 1990, S. 28-31

Hoffmann, K., Horninger K.H.: "Größere Speicherkapazitäten bei verbesserten technischen Eigenschaften", Mikroelektronik Jan./Feb. 1 1990, S. 10-11

Kowarik, O., Kraus, R., Hoffmann, K., Horninger, K.H.: "Associative und Data Processing Mbit-DRAM", Proceedings of ICCD Sept. 1990, S. 421-424

1989

Anthofer, A., Kraus, R., Hoffmann, K.: "A Continuos Analytical MOS-Model for Analog Application", Proceedings of Sixth Int. Conf. on the Numerical Analysis of Semiconductor Devices and Integrated Circuits 1989, Dublin, Irland, S. 325-331

Heimsch, Hoffmann, Pfleiderer: "Digest of BiCMOS Workshop", Oct. 89, UniBwM (Organisatoren)

Kraus, R., Kowarik, O., Hoffmann, K., Oberle, D.: "Design for Test of Mbit DRAMs", Proceedings of Int. Test Conference 1989, Washington, S. 316-321

Kraus, R., Hoffmann, K.: "Optimized Sensing Scheme of DRAMs",IEEE Journal of Solid State Circuits. VOL. 24, 4. August 1989, S. 895-899

Kraus, R.: "Analysis and Reduction of Sense-Amplifier Offset", IEEE Journal of Solid State Circuits. VOL. 24, 4. August 1989, S. 1028-1033

Kowarik, O., Kraus, R., Hoffmann, K., Horninger, K.: "Associative and Data Processing Mbit-DRAM", ESSCIRC 89

Kortstock, M.: "Bewertung unterschiedlicher Meßverfahren bei der Belastung elektronischer Bauelemente mit sehr schnellen Impulsen", Dissertation

Kowarik, O.: "BiCMOS Potential and Constraints in Digital Applications and DRAMs", Digest BiCMOS workshop UniBwM, Okt. 89

1988

Paul, M.: "Temperaturabhängigkeit von MOS-Transistoren und ihre Auswirkung auf Referenzspannungsquellen", Dissertation

Gleis, D: "Marginaltest und Analyse von DRAMs mit maskierter Alpha-Strahlung", Dissertation

Kraus, R.: "Verstärkung von Lesesignalen in dynmamischen Halbleiterspeichern", Dissertation

Gleis, D., Hoffmann, K.: "Marginal Test of DRAMs by Masked Alpha-Radiation", Proceedings of IEEE 1988 CICC, Rochester N.Y., USA, S. 433-435

Paul, M., Kraus, R., Hoffmann, K., Harter, J.: "All MOS On-Chip Power Supply Conversion", Proceedings of IEEE 1988 CICC, Rochester N.Y., USA, S. 738-742

Harter, J., Pribyl, W., Bähring,M., Lill, A., Matthes, W., Müller, W., Hoffmann, K.: "A 60ns Hot Electron Resistant 4 MDRAM with Trench Cell", Proceedings of IEEE ISSCC 1988. San Francisco, USA, S. 659-660

Kraus, R., Hoffmann, K., Kowarik, O., Pribyl, W.: "Optimized Sensing Scheme of DRAMs", Digest of Technical Papers, 1988 Symposium on VLSI Circuits. Tokyo, Japan, S. 77-78

1987

Kraus, R., Harter, J., Hoffmann, K.: "A Sense-Signal Doubling Circuit for DRAMs", Proceedings of ISSCC 1987, New York, USA, S. 16-18

Oberle, H.D., Kowarik, O., Kraus, R., Hoffmann, K., Paul, M.: "Prüffreundlicher Entwurf von Dynamischen Speichern", ITG-Fachberichte 98, 1987, S. 297-300

Gleis, D., Hoffmann, K.: "Test of DRAMs by Masked Alpha-Radiation", Proceedings of Int. Test Conf. 1987, Washington D.C., USA, S. 858-862

Kowarik, O.: "Self-Repairing Semiconductor Memory Chip with Improved Availability/Reliability", Proceedings of IEEE 1987 CICC, Portland, USA, S. 598-601

Kowarik, O., Kraus, R., Hoffmann, K.: "Selfrepairing Semiconductor Memories", Proceedings of COMP EURO 1987, Hamburg, Deutschland, S. 656-659

1986

Hoffmann, K.: Dynamic RAMs Proceedings of the ISSCC 86 1986, Anaheim, USA, chairman

Paul, M., Hoffmann, K., Kowarik, O., Kraus,R.: "Lesesignalverluste durch Kopplung in dynamischen Halbleiterspeichern", NTG-Fachberichte 96, 1986, S. 137-141

1985

Sack, J.: "Störspannungsemission kleiner Gleichstrom-Kommutatormotoren im Bereich der Hörfrequenzen", Dissertation

1984

Lorenz, L.: "Zum Schaltverhalten von MOS-Transistoren bei ohmisch-induktiver Last", Dissertation

Kowarik, O., Hoffmann, K.: "Design methodology challenges the University", SEFI-Annual Conference (1984), Erlangen, Deutschland

 

(Liste unvollständig)